因颱風假打亂作業期程，所以"114學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定初試紙本通知單"於今日11/1與下週一11/4發出，也將紙本通知單內容放置學校首頁，以便家長知悉。

請二年級家長注意，如果有報名參加「臺北市114學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定初選評量」，請詳閱下列注意事項；如有任何疑問，請洽詢本校特教組長（聯絡電話：02-23450616#530），謝謝您！          
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臺北市114學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定
評量日期：113年11月06日（星期三）
集合及報到時間與地點：敬請家長於當日上午08：00前將小孩送至學校，老師將於施測時間前至班級，統一帶領受測學生至多媒體會議室。
學生應準備物品：
（一）請攜帶數位學生證與紙本通知單進行報到，俾便查驗身份入校參與評量。
（二）評量採電腦劃卡型式，學生應準備2B鉛筆及橡皮擦參與評量。 
（三）得視個人需求配戴手錶，惟不可攜帶具智慧型/電子裝置/鬧鈴功能之手錶。 
（四）除上述物品外，其餘東西（如：鉛筆盒、水壺、尺、墊板等）皆不可攜入試場。
（五）口罩如有需求，可配戴參與評量。
其他：
（一）初選評量係團體施測，未能於各受理轉介鑑定學校規定時間參與初選評量者，視同放棄，且不得要求補行施測。
（二）請依通知時間準時入場接受評量，逾時10分鐘不得入場。
（三）評量時間由各試場教師依測驗規定計時，評量期間學生如因偶發事件（如：發生情緒問題或如廁等）離開試場，不得要求延長評量時間或補測。
（四）初選結果公告：113年11月26日（星期二）公告於臺北市政府教育局、臺北市國語實驗國民小學、臺北市資優教育資源中心及本校網站。
（五）若當日鑑定有嚴重干擾行為之學生，經制止無效後，將帶離試場，以免影響其他學生進行鑑定測驗。